Tubos nuevos de rayos X permiten una revolución en la resolución

Los novedosos sistemas de imágenes de rayos X, con aumento geométrico ofrecen una variedad de características diseñadas para proporcionar imágenes de alta calidad.

Los tubos de rayos X de alta resolución NanoTube N2 de Excillum (Kista, Suecia), disponibles en configuraciones de 60 kV y 110 kV, se basan en tecnología electrónica avanzada y tecnología de objetivo de transmisión de diamante-tungsteno. El enfoque automático del haz electrónico y la corrección del astigmatismo aseguran que se logre el punto más pequeño y verdaderamente redondo posible. Con una resolución de 150 nm, es posible una velocidad de imagen que es tres veces más rápida que con su predecesora, el NanoTube N1 y con el aumento del flujo, el tiempo de medición se reduce de 15 a cuatro horas.

El NanoTube N2 también tiene una característica única de medir e informar internamente el tamaño actual del punto y, gracias a un avanzado sistema de haz electrónico y control térmico integrado, se logra una excelente estabilidad a largo plazo en exposiciones prolongadas. Otras características incluyen la medición del tamaño de punto absoluto interno; un cátodo de larga vida; tamaño de punto variable y puntos de ajuste de potencia con posición de punto sin cambios; y un frente en forma de cono para un excelente acceso geométrico al punto de rayos X.

“Estamos muy emocionados de lanzar nuestro último desarrollo, el NanoTube N2, que proporcionará a las industrias y las instalaciones de investigación una fuente de rayos X en el lugar con una resolución y velocidad de imágenes sin precedentes”, dijo Björn Hansson, director ejecutivo de Excillum. “El NanoTube N2 abrirá nuevas posibilidades para todas las aplicaciones que requieren la máxima resolución de rayos X”.

El NanoTube N2 está dirigido específicamente a un departamento de investigación y desarrollo avanzado, así como a inspección y pruebas no destructivas (NDT) de componentes en, por ejemplo, la industria automotriz, aeroespacial, médica, electrónica y de semiconductores de vanguardia, para encontrar y analizar características ocultas.

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